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NI Days 2026 | AI与软件创新、NI平台与智能测试分论坛看点全解析
AI 正在从概念走向真实工程应用，测试与验证也正在进入 AI 就绪的新阶段。
随着系统复杂度不断提升、测试数据快速增长、产品迭代持续加速，工程团队需要的不只是单点工具升级，而是一套能够承载 AI 应用落地、打通数据、软件与硬件的测试与验证平台。
2026 年，NI Days China 将聚焦AI 在测试测量中的应用落地，展示如何依托 AI 就绪的平台能力，帮助工程团队提升开发效率、缩短验证周期、加速数据洞察与工程知识沉淀。
AI与软件创新分论坛议程
演讲人：NI
摘要：从 LabVIEW 调试功能与用户界面的改进，到 Unicode、Linux 支持等新能力，全面了解最新功能，并获取产品路线图，为下一次升级做好规划。同时介绍 LabVIEW Nigel 的最新更新，包括 AI 辅助开发与工程工作流优化，帮助工程师更高效地完成代码理解、问题定位和应用开发。
演讲人：NI
摘要：随着测试数据规模持续增长，Nigel™ AI通过MCP进一步扩展了连接外部数据与工具的能力，为工程数据的智能化使用提供了新的方式。 本次分享将介绍MCP的基本理念，并结合SystemLink MCP，展示Nigel如何连接测试数据与系统信息，提升测试数据管理与工程信息获取效率。
演讲人：元启创智
摘要：介绍面向工业测试的 AI 智能体架构 MetaXTest，覆盖测试全链路智能体协同设计；详解本地大模型与私有化部署方案，并结合真实项目分享从调研到验收的落地方法与量化收益。
演讲人：NI
摘要：面向 NVH 异常检测的机器学习参考方案，融合 AutoFE、半监督与全监督建模，帮助制造商在现有 NI/LabVIEW 测试系统上增加 AI 质量门，推动下线检测升级。
演讲人：NI
摘要：本次演讲将介绍基于 TestStand Nigel™ AI 和 InstrumentStudio 的 自动化电子验证流程，展示如何实现从仪器配置、AI 辅助开发测试序列，测试执行到结果记录与分析的自动化验证流程。通过两款工具的协同应用，简化测试开发与设备管理，提高验证效率、一致性和可追溯性，帮助工程团队更快速地完成电子产品验证与质量评估。
NI平台与智能测试分论坛议程
演讲人：NI
摘要：探讨 PXI 借助 RDMA/GPUDirect，结合 FPGA 的确定性处理与 GPU 的高吞吐计算优势，实现从高速数据采集到 AI 推理的低延迟通路。
演讲人：NI
摘要：了解 NI PXI、InstrumentStudio、LabVIEW 和 TestStand 如何协同加速电子自动化测试：数秒内完成测量，数分钟内实现自动化，并提升整体测试效率。
演讲人：NI
摘要：介绍多通道同步数据采集、实时传输与 AI 分析的融合架构，展示如何利用高质量数据与智能算法提升状态监测、异常识别和测试效率。
演讲人：NI
摘要：本session将介绍 NI CompactRIO 平台及最新产品，重点解析其实时控制、数据监测与 FPGA 处理能力，并结合 AI 数据中心电能监测、边缘 AI 实时部署、具身智能机器人灵巧手与关节控制、核聚变装置控制与监测等案例，分享 CompactRIO 在智能系统中的应用方向与实践。
演讲人：NI
摘要：介绍基于 NI FPGA 实现锁相放大、微弱信号提取与实时闭环控制的方法，兼顾高精度、低延迟和可扩展性，适用于科研与工业测控场景。
现场亮点-解锁丰富参会体验
周年庆纪念礼品
周年庆纪念礼品
为了感谢大家一路以来的支持，我们为您精心准备了NI 50周年、LabVIEW 40周年庆限定纪念品，现场参与互动即可赢取。
2026年10月28日，上海国际会议中心。NI Days 2026，期待与您一起探索 AI 时代的未来测试之路。
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