夜雨聆风
引 言
我是 Mark，读初二。
今天六一儿童节，可是我们在 5 月 27 日刚摘下红领巾，正式成为一名青年。
本以为能再过一个儿童节，结果——泡汤了。五四那天没有过青年节，今天又没过成儿童节。
不过今天对我意义重大：我参与开发的MarkPlot 马克绘图今日正式首发！这是一款专为科研人打造的图像标注工具——TEM 晶面标定、标尺校准、两点测距、三点角度、EDS 能谱重建……全都能搞定，还能输出 600dpi 期刊级图片。
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TEM晶面间距的测量
我为什么开发这个研究生们需要用到的程序？大家可以阅读“从小爱编程”我的公众号中的一篇文章。
MarkPlotV1.38：TEM/SEM/EDS图像处理程序
程序界面如下，就是简陋粗糙了点儿，但这是“败絮其外，金玉其中”，其内部逻辑的开发，我们耗费了近1个月的时间。后续会优化、美化界面，做点表面功夫。
一、功能展示
（1）TEM 晶面间距与角度测量
第二步：剪裁图像，实现局部放大
第三步：三点法测量晶面间距
经过反复讨论、推理，我们首创提出“三点测量法”，鼠标依次点击三个点（A、B、C），即在需要绘制平行线的某个暗纹方向，先点击2次，形成线段AB，再转向亮纹方向（或垂直条纹方向）大约越过10个以上的条纹（不用数，程序会自动计算），在暗纹处松开鼠标，形成C点。沿着线段BC方向，统计条纹数n、测量BC段距离L，最终计算出平均间距d=L/n。
第四步：三点法测量角度
利用鼠标依次点击三点(A、B、C），可自动计算并标记∠ABC的夹角。
（2）SEM 图像颗粒直径的测量
扫描电镜（SEM）图像的处理中，常用操作是剪切，例如剪切掉底部注释区域，再如按4:3或1:1剪切。拖动鼠标可选择区域，精确控制剪切范围。
（3）文本标记与颜色设置
测距是科研绘图最常用的功能之一。MarkPlot程序可以标注多个对象的直径或距离。标记文本的颜色、字体与大小，均可调整。
（4）EDS 添加标准坐标系
能谱分析（EDS）图多为截图，不清晰，坐标系不标准，图中字体不符合期刊要求。因此需要进行裁剪、重建坐标系。
（ps: 后续升级将增加AI绘图、数据绘图等功能，可以从EDS实测数据绘图，而不是这里的截图图像处理。）
第一步：裁剪坐标系
第二步：微调边距
（6）保存 600dpi 期刊级图
MarkPlot 默认 600 dpi 输出，满足绝大多数期刊要求：
线图、示意图 → ≥600 dpi
组合图（含照片） → ≥300 dpi
纯照片类 → ≥300 dpi
支持格式：PNG、TIFF、BMP、JPG
💡 投稿小贴士
尽量用矢量图（如 PDF、EPS）提交组合图，也可以用Tif位图，但需要保证足够的分辨率（300~600 dpi）。避免反复压缩 JPG，每压缩一次就损失一次细节。
二、关于我
Mark，华师附中初二年级。参撰新书《写给孩子的生成式人工智能》的第二作者，也是书中的主角“扬扬”。这本书将在9月前正式出版，感谢大家的关注和鼓励。
这是我
读大学研究生的哥哥姐姐们，你们有什么科研绘图上的难题、对MarkPlot绘图软件有什么建议，欢迎给我留言，下次升级更新。
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感谢一键三连！
