【软件技巧】XPS数据处理工具:Avantage简介

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提供荷电校正、背景扣除（Smart/Shirley/Tougaard）、多峰拟合（高斯-洛伦兹混合函数）等功能，可精确识别元素化学态。

基于相对灵敏度因子（RSF）自动计算各元素及化学态的表面原子百分比。

支持深度剖析、XPS 成像、角分辨XPS（ARXPS）等。

可将处理后的谱图数据导出为通用文本格式（如.txt、.csv、.xys），供Origin、Python、Excel等第三方软件进一步绘图或分析。

先打开Avantage软件，然后找到原始数据文件，将VGD文件拖到Avantage中，可按住ctrl键多选；

💡小贴士：建议先保存一个工程文件（File→Save as→.vgd），避免处理过程中意外丢失。

选中C1s图，点击工具栏“峰添加”，一般选择“Smart”背景，点击“添加”，然后关闭即可，此时软件会自动给该图谱增加一条基线；

📌背景扣除的目的是去除非弹性散射电子产生的抬升信号，让峰形更真实。如果Smart背景不满意，可尝试Shirley（适用于峰重叠严重）或Linear（简单线性）。

点击工具栏“峰拟合”，然后“添加峰”，选择添加单个峰，添加峰的数量以及峰的宽度可根据实际的实验样品进行调整；接着回到“峰拟合”，点击“拟合所有层”，可自行调整所需要的拟合状态，最后确定；

⚠️注意！在峰拟合之后，可在峰拟合数据中看到“FWHM拟合”栏的数据，此值为半高全宽，一般来讲，同一张谱图中，不同化学态的子峰FWHM应大致相等（差别不超过0.2~0.3 eV），除非有明确的物理原因（如金属态和氧化态因寿命不同而有微小差异），若差距过大，可自行调整；

以C1s（284.80 eV）为参考，对全谱及各高分辨谱进行能量校正；观察峰位数据，计算C1s与参考值（284.80 eV）的差，进行精准位移调整，注意右下角的“允许非整数位移”要勾选；

处理完成后，我们需要将谱图数据（包括原始强度、背景、拟合峰等）导出，以便在Origin中绘制更精美的论文图表。选中需要导出数据的图谱，点击右上角报告，excel形式，然后“Report to……”，保存即可。

问题：导出的数据只有两列，没有分峰组件、背景等信息。

原因：Avantage的某些语言版本（如中文）下，“报告”功能默认只导出原始数据。

解决：此时需要在编辑里面点开首选项“UI preferences”更换语言为“English United States”，然后重启软件，重新导出，最终导出的多列数据在Origin软件中进一步处理。

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