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AI数据中心芯片翘曲对热界面材料(TIM)热性能测试结果的影响

AI数据中心芯片翘曲对热界面材料(TIM)热性能测试结果的影响

芯片翘曲对热界面材料(TIM)热性能测试结果的影响

—— 铜制TTV与真实GPU平台上的TIM评估对比

一、引言

  • 主题预告:今天将探讨芯片翘曲如何影响热界面材料(TIM)的热性能测试结果。(keynot+视频见文末)

二、研究背景

核心问题:在裸芯片封装中,随着封装尺寸增大,超过30%的总热阻来自热界面材料(TIM)。
热阻构成:总热阻可分解为四个部分:冷板、热界面材料、热串扰、封装内部及硅片内部。
关键结论:图表展示了两个不同功率密度的例子,TIM相关的热阻均超过30%,因此TIM是散热堆栈中的关键贡献者。
研究动机:随着AI加速器功率密度的提升,改善TIM层的热阻至关重要。
图1 不同功率密度下散热堆栈各层热阻占比,TIM占比均超过30%

三、研究概述

研究目标:调查多种热界面材料(TIM),并以相变材料(PCM)为基准,评估它们的性能。
测试单元:
  • 铜TTV(700W):用于TIM的初步筛选和性能调查。
  • 真实GPU(700W):用于量化TIM在真实芯片环境中的表现。
测试条件:使用PG25冷却液,流量1~1.6 LPM/GPU,冷却液入口温度30°C。
材料对比:表格汇总了正在评估的TIM及其数据手册中的导热系数(K值)。
材料排名(按K值):石墨(42 W/m-K)>纯LMT-1(28 W/m-K)>纯LMT-2(26 W/m-K)>PC-Metal Foil(18 W/m-K)>PCM-1(8.5 W/m-K)>PCM-2(7.5 W/m-K)。
图2 参与评估的TIM材料及其数据手册导热系数(K值)汇总表

四、测试设置

两种测试装置:
  • TTV装置:使用一个铜质均匀发热的假芯片,提供参数受控的测试环境。
  • GPU装置:使用真实GPU,提供TIM在真实应用环境中的表现。
共同参数:两个装置均能提供约700W的功率,流量范围1~1.6 LPM,冷却液入口温度30°C,使用PG25冷却液。
温度测量:在两个装置的冷板底部和TTV顶部都放置了热电偶,用于精确捕捉TIM层的热阻。
图3 TTV测试装置与真实GPU测试装置的结构对比

1. GPU装置

目的:了解TIM在真实应用环境中的表现。
测量对象:测量的是“TIM + GPU”的总热阻。

五、TIM性能偏差

核心问题:某些TIM在真实芯片上的性能表现,与TTV(热测试载具)测试结果存在显著差异。

·相变金属箔(PC-Metal Foil):在TTV测试中表现优异,但在真实GPU测试中性能大幅下降。

·石墨TIM(Graphite TIM):在数据表中导热系数(K值)最高,但实际测试性能与相变材料(PCM)相近。

1. PC-金属箔的测试结果

TTV测试结果:PC-金属箔的热阻抗比PCM-1低17%(性能更好)。
真实GPU测试结果:PC-金属箔的热阻抗比PCM-1高28%(性能更差)。
关键发现:同一款TIM在两种测试平台上的表现完全相反,性能偏差巨大。
图4 PC-金属箔在TTV与真实GPU平台上的热阻抗对比结果

2. 翘曲变化的示例

根本原因:真实芯片(裸片)存在翘曲(Warpage)现象。
  • TTV由铜制成,在温度变化时能保持平整。
  • 真实芯片因材料复杂、封装结构多样,在温度变化时会发生弯曲或翘曲。
  • 翘曲直接影响TIM与芯片、冷板之间的接触质量,并改变TIM层的厚度。

(1)预热阶段

状态:TTV和GPU测试单元均预热至70°C。
结果:两者都保持平整,TIM处于最佳工作状态。

(2)测试阶段

状态:实际测试时,温度降至约50°C。
结果:TTV保持平整,但GPU开始出现翘曲(表面呈凸起形状)。

·翘曲导致冷板与芯片之间的间隙增大,尤其在HBM(高带宽内存)侧,间隙比GPU中心更大。

(3)TIM性能

PCM和导热膏:能够适应翘曲引起的间隙变化,因为它们可以流动或在压力下变形,从而保持接触。
PC-金属箔:在工作温度不够高时会变得刚硬,无法适应芯片的形变。
后果:一旦芯片翘曲,空气间隙就会出现,有效热传递面积损失,导致性能急剧下降。

3. 使用实验数据评估翘曲影响

实验方法:比较三个不同GPU单元在低温与高温下的温度差变化。
GPU结温到入口:温度差变化小于1°C,表明GPU中心区域的接触稳定。
HBM结温到入口:温度差变化约4°C,表明翘曲主要影响远离中心的区域(如HBM位置),该处间隙更大。
结论:PC-金属箔的性能下降并非其固有属性问题,而是由温度依赖的芯片翘曲导致物理接触不良所致。
图5 三个GPU单元在低温与高温下的结温至入口温度差变化

六、石墨TIM的性能偏差

1. 性能表现与预期不符

核心发现:石墨TIM的导热系数(K值)是PCM-1的约4倍,但在实际测试中性能并未显著领先。
  • 在TTV测试中,其性能仅略优于PCM-1。
  • 在真实GPU测试中,其性能与PCM-1几乎相同。
原因分析:性能受限并非材料本身问题,而是由接触电阻和芯片翘曲共同导致,这证实了导热系数并非选择TIM的唯一参数。
图6 石墨TIM在TTV与真实GPU平台上与PCM-1的性能对比

2. 接触失效的机理

导热膏类TIM(如Thermal Grease):能够有效填充冷板与芯片之间的表面粗糙度和装配错位,形成连续的导热路径。
固体类TIM(如石墨):无法实现与导热膏相同的润湿效果。
  • 表面粗糙度和平面度差异会导致空隙,空隙中充满空气,成为接触热阻的主要来源。
  • 问题加剧条件:当冷板或芯片表面不够平整(存在翘曲)时,空隙问题会更加严重。
图7 导热膏与固体类TIM在界面填充与接触热阻上的差异示意

3. 结论与启示

关键结论:石墨TIM的高导热系数优势,被接触热阻和芯片翘曲带来的负面影响所抵消。这再次强调:导热系数不是评估TIM性能的唯一参数,实际应用中的接触状况和机械变形同样至关重要。

七、TIM热导率测试标准(ASTM D5470)

标准依据:大多数TIM(导热界面材料)制造商采用ASTM D5470标准来测量热导率。
测试条件极其理想化:该标准要求测试表面粗糙度低于0.4微米,平行度公差在5微米以内。这种表面条件极为理想,远优于实际冷板和GPU的表面状况。
实际性能的关键差异:即使材料本身具有优异的热导率,在实际系统中的表现往往由接触质量主导。真实系统中的接触面粗糙度和平行度远高于测试标准,导致实际热阻增大,这一差异对于膏状TIM(导热硅脂)尤为明显。
图8 ASTM D5470标准测试条件与真实系统表面条件对比

八、TIM性能排名总结

PCM(相变材料):在所有TIM中仍表现出相当不错的散热性能。
液态金属:相比基准线,散热性能提升了约13%。虽然性能优异,但团队仍在研究如何解决其应用风险(如导电性、泄漏等问题)。
排名对比:表格展示了不同TIM的K值(热导率)排名与实际GPU上的性能排名,两者存在明显差异,进一步印证了接触质量对实际性能的主导作用。

图9 TIM导热系数排名与实际GPU性能排名对比表

九、结论

1. TIM的选择与验证

TIM选择原则:必须与封装类型和尺寸紧密匹配,不能只看数据表上的导热系数。
性能验证方法:为准确评估TIM在真实应用中的表现,需使用实际芯片或能模拟真实翘曲的硅基TTV进行热测试。
  • 预筛选建议:优先使用与目标芯片翘曲特性相近的上一代芯片进行测试。
  • TTV优势:若能使用真实模拟芯片翘曲的硅基TTV,对识别TIM影响非常有帮助。
关键认知:选择正确的TIM,关键在于理解每种材料如何与特定封装及真实世界条件相互作用。
图10 TIM选择与验证方法的核心结论

2. 具体材料性能对比

相变金属箔片TIM:相比相变材料(PCM),其适应翘曲变化的能力较差,因此在真实GPU测试中表现更差。
石墨TIM:虽然其标称导热系数约为PCM的四倍,但由于接触电阻和翘曲的影响,实际热性能与PCM相当。
液态金属:在真实芯片应用中表现出最佳的热性能,但其应用风险仍需彻底评估,团队正在研究如何解决这些风险。

3. 总结

核心要点:选择TIM不能仅看数据表上的数字,必须理解每种材料如何与特定封装和真实世界条件相互作用。

十、行动指南与未来方向

1. 核心行动建议

建立测试与落地标准:制定标准化的测试和实施协议,用于精确量化高性能TIM的性能,特别是考虑芯片翘曲的影响,从而降低行业采用新TIM时的导入风险。
追求高性能且易应用的TIM:寻找并采用既具备高导热性能,又易于施工的导热界面材料,以满足AI应用持续增长的功率密度需求。
参与社区的方式:目前OCP内尚无专门聚焦TIM研究的社区,但“冷却环境项目”是交流与分享知识的最佳平台。

图11 TIM测试标准化、材料选型与社区协作的行动建议

2. Q&A:技术细节探讨

TIM厚度与翘曲量:实验中使用的TIM厚度大约在200到250微米,而芯片翘曲量大约是TIM厚度的一半。
数值模拟中的翘曲建模:团队内有专家能够对芯片翘曲进行数值模拟。
未来研究方向:团队正在研究如何将测试扩展到更长时间,以捕捉真实负载循环下的性能变化,预计在下一届OCP峰会上分享更多成果。
图12 TIM厚度、翘曲量与未来研究方向的问答要点

十一、知识小结

表1核心主题要点汇总

line-height:120%">主题

核心观点

主要论据

文中金句

热界面材料(TIM)性能对比

TIM选择需与封装类型和芯片翘曲特性对齐

相变金属箔在铜制TTV测试中性能优异(比PCM-1低17%热阻抗),但在真实GPU测试中反而差28%

“选择正确的TIM不仅仅是看数据表上的数字,而是要理解每种材料如何与特定封装和真实世界条件相互作用。”

芯片翘曲对TIM性能的影响<o:page></o:page>

温度变化导致真实芯片翘曲,影响接触质量

GPU在50°C时开始向上弯曲形成凸面,增加冷板与芯片间隙;相变金属箔在低温下变硬,无法适应形变

“性能下降并非由于相变金属箔的固有属性,而是由温度依赖的芯片翘曲导致的物理接触损失。”

石墨片TIM性能分析

高导热系数(比PCM-1高4倍)未带来实际性能优势

石墨片无法像导热脂那样填充表面粗糙度和平面度变化,导致气隙产生接触热阻

“热导率不是唯一需要关注的参数。”

TIM测试标准局限性

行业标准(ASTM D5470)测试条件过于理想化

标准要求表面粗糙度<0.4μm、平行度<5μm,但真实系统表面条件远差于此

“即使材料本身具有优异的热导率,实际系统性能可能由TIM接触质量主导,尤其是对于固态TIM。”

不同TIM类型性能排名

PCM(相变材料)性能良好,液态金属性能最佳

液态金属TIM相比基线提升约13%热性能

“在真实芯片应用中,液态金属在热性能方面表现最佳,但仍需解决应用风险。”

行业行动建议

建立TIM测试和实施标准,寻求高性能且易应用的TIM

OCP冷却环境工作组是分享学习成果的最佳平台

“随着AI应用持续推高功率密度,对高性能但应用友好的TIM需求变得更加紧迫。”

表2TTV测试(铜制假芯片)与真实GPU测试对比

line-height:120%">对比维度

TTV测试(铜制假芯片)

真实GPU测试

关键差异

测试条件

受控参数环境,700W功率

真实应用环境,700W功率

芯片材料与结构不同

相变金属箔性能

比PCM-1好17%

比PCM-1差28%

性能反转,差异显著

芯片翘曲影响

铜制TTV保持平坦

GPU在50°C时翘曲形成凸面

翘曲导致接触间隙增大

石墨片性能

与PCM-1相似

与PCM-1相似

高导热系数(4倍)未转化为性能优势

测试温度

预加热至70°C时两者均平坦

温度降至50°C时GPU开始翘曲

温度依赖性翘曲是关键变量

 演讲keynote+视频(中文字幕)已上传至星球!

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