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半导体工艺和器件仿真软件Silvaco TCAD实用教程(2.2.1-定义网格)

半导体工艺和器件仿真软件Silvaco TCAD实用教程(2.2.1-定义网格)

2.2.1 定义网格

在 TCAD 仿真中,真实器件在空间上是连续的,但计算机不可能在无限多个位置上求解,因此必须先把器件空间离散成有限个计算点。

这一步就是网格划分(meshing)。

可以把它简单理解为:先在器件内部铺上一张“计算坐标网”,然后在这些离散位置上求解掺杂浓度、电势、电场和载流子等物理量。


1. LINE:定义网格的位置和密度

在 ATHENA 中,最基本的网格命令是 LINE。

例如:

line x loc=0.0 spacing=0.1line x loc=1.0 spacing=0.05

其中:

  • x:表示定义 X 方向的网格;
  • loc:指定网格线所在的位置;
  • spacing:指定该位置附近希望采用的网格间距。

因此:

spacing=0.05

比

spacing=0.1

对应更密的网格。

需要注意,spacing 表示的是局部目标网格尺寸。软件会在不同网格密度之间进行平滑过渡,而不是突然从很密变得很粗。


2. 为什么要使用非均匀网格?

如果整个器件都采用相同的网格尺寸,就是均匀网格。

但实际 TCAD 仿真更常使用非均匀网格。

这是因为器件内部不同位置的物理量变化速度并不相同。

例如在以下区域:

  • 材料界面;
  • PN 结附近;
  • 半导体表面;
  • 掺杂浓度快速变化的位置;
  • 电场梯度较大的区域;

通常需要更密的网格。

而在物理量变化很缓慢的区域,则可以使用较粗的网格。

因此,网格设计的基本原则是:

变化快的地方多取点,变化慢的地方少取点。


3. 网格不是越密越好

网格越密,通常越能够描述空间中的快速变化。

因此:

但另一方面:

如果网格太粗,可能无法正确描述结区、电场峰值或掺杂梯度,甚至影响数值收敛。

如果网格过细,则会产生大量不必要的计算点,显著增加仿真时间。

因此,一个好的网格并不是整个器件都非常细,而是:

关键区域细化,非关键区域适当粗化。


4. 新淀积的材料也需要网格

工艺仿真过程中,器件结构会不断发生变化。

例如执行淀积命令后:

deposit polysilicon ...

器件中会出现一层原本不存在的新材料。

这层材料内部同样需要建立网格。

ATHENA 可以通过类似下面的参数控制新材料层中的网格:

divisionsdyydy

其中可以先简单理解为:

  • divisions:控制新材料层在厚度方向的大致划分数量;
  • dy:控制局部纵向网格间距;
  • ydy:指定这个网格间距对应的深度位置。

这些参数的本质仍然没有改变:

决定哪些位置需要更多计算点。


5. 二维器件最终通常使用三角形网格

虽然前面通过 LINE X 和 LINE Y 定义的是横向和纵向网格线,但二维器件最终通常会进一步被划分成三角形单元。

这样做的原因是三角形能够更加灵活地描述复杂的:

  • 材料界面;
  • 沟槽结构;
  • 曲面;
  • 不规则器件边界。

因此,网格质量不仅与“网格有多密”有关,还与三角形的形状有关。

过于细长或具有很大钝角的网格单元,可能降低计算精度,并影响数值收敛。


6. point 和 node

在网格中还会遇到两个概念:

point 和 node。

point 可以理解为一个几何位置。

而 node 则是用于保存材料和物理变量的实际计算节点。

如果一个网格点完全位于单一材料内部,一个 point 通常对应一个 node。

但如果一个网格点位于两个材料的界面上,同一个几何位置可能需要分别描述界面两侧的材料状态,因此可能对应多个 node。

所以实际数值计算的规模,并不仅仅由几何网格点数量决定,还与计算节点数量有关。


小结

TCAD 中的网格,本质上是把连续的器件空间转化为有限个数值计算位置。

网格设计需要同时考虑:

精度和计算效率。

最核心的原则可以归纳为一句话:

在结构或物理量变化剧烈的区域使用细网格,在变化平缓的区域使用粗网格。

网格本身不是物理模型。

它决定的是:

方程在哪里被求解。

而后续的物理模型和控制方程决定的则是:

这些位置上究竟要计算什么。

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