蔡司工业显微镜软件解决方案与材料应用

迄今已有多年发展。其原理并不复杂：诸多技术本身具有互补性，同一样品先后经光学显微镜与扫描电镜观察，所得的对比度、数据及像素信息均存在差异。若将这些信息加以整合，便能获得更为全面的认知。借助 ZEN 导航工作区，各类数据可归入同一项目与同一图像库，用户既可分别查看，也可单独提取图像进行分析。

工业CT 或 X 射线数据本身就是 3D 的，再结合 SEM 或 FIB, 可以观察样品表面以下，深入内部，以高分辨率分析缺陷。

去噪是电子显微镜等领域的一大难题，同时也是巨大的潜力。噪点底下其实压着大量有用信息，只是看不见而已。我们要做的，就是把这些被掩盖的有效特征提取出来。

借助去噪工具和 AI，信息真的能被挖出来。

当计算机开始对样品、对信息做出反应并从中学习，AI 就已经开始工作。再深入一层，机器学习可以运用复杂算法进一步学习，经过训练后能分析非常复杂的数据。

以电池阴极颗粒为例，软件需要将图像中的颗粒逐一分离，进而生成统计数据。传统方法依赖阈值分割，能获取的有效信息往往十分有限；而借助 AI，颗粒可被轻松分离，统计数据自动生成，最终一键整合至报告。整个过程中，软件仅需数分钟的训练即可产出结果。此外，AI 的能力并不局限于颗粒分析，通过训练不同类型的模型，可适用于各类检测对象；即便是自行训练，通常也只需 10 至 20 分钟。

无论图像来自何种模态，2D、3D、光学显微镜、电子显微镜还是 X 射线，AI 都能从中提取有效信息。训练模型固然需要一定时间，但一旦训练完成，实际应用极为迅速。以 ZEN 软件界面为例，最简洁的流程便是加载图像，随后调用不同模型尝试分析。若模型已预先训练完成，并将分析方案分配至特定应用且保存，则整个过程仅需约一分钟，甚至更短。

在涂层分析中，用户可实时修正数据，软件则自动测量各层厚度，并将结果整合至报告，而报告可导出至任意平台；即便是复杂结构，分析过程也十分简便。多相分析同样只需数次点击即可完成样品检测，结果自动汇总至报告，以电池隔膜为例，作为电池的关键部件，它直接关系到离子在阴极与阳极之间的传输，相关统计数据对于理解电池性能优劣至关重要。至于颗粒分析，软件的分割表现同样出色，即便面对重叠颗粒也游刃有余。例如增材制造场景中大量颗粒相互混杂，软件需逐一判断每个颗粒的来源与归属，而这一切均能准确完成。

点击、点击、搞定。ZEN Core让操作更简单。

蔡司拥有丰富的产品线包含显微镜，蓝光扫描仪，三坐标，工业CT，助力全面解决电子客户面临质量挑战与痛点。