Nano Measurer 1.2 安装包 | Win中英文版 | 晶粒分析统计软件 | 下载链接+激活教程

下载说明

Nano Measurer是一款面向SEM、TEM图像的晶粒分析统计软件，可测量微纳米尺度尺寸并导出数据。

Nano Measurer是一款轻量化的晶粒分析统计软件，主要用于处理扫描电镜、透射电镜等显微图像，对微纳米尺度下的颗粒、晶粒、孔径等对象进行尺寸测量与统计分析。软件支持长度、直径、孔径以及颗粒间距离等参数的提取，适合材料科学、纳米技术、地质矿物等领域的科研人员使用。其界面简洁、占用内存小，操作门槛较低，测量结果可导出后导入Origin等软件进一步作图分析。软件提供中英文界面切换，方便国内外科研人员协作使用。

版本特点：

Nano Measurer在实际使用中围绕显微图像测量与统计展开，核心能力包括打开BMP、JPG等常见图像格式，通过标尺校准建立像素与实际尺寸的对应关系，再以手动标记方式测量颗粒的长度、直径、孔径及颗粒间距。软件支持在标记过程中即时生成报告，当测量数据积累到一定数量后，可查看基础统计报告，了解尺寸分布情况。标记线的颜色和标号位置可以灵活设置，便于在图像上清晰区分不同测量对象。测量数据能够导出并导入Origin等绘图软件，方便后续制作粒径分布图或统计图表。中英文界面切换功能也便于推荐给使用不同语言的科研同行。

支持格式：

Nano Measurer主要面向显微图像分析场景，可直接打开BMP和JPG格式的图片进行标记与测量，其他常见图像格式通常需要先通过图像编辑软件转换后再导入。软件在测量过程中生成尺寸数据，并支持查看基础报告与统计报告，这些结果数据可导出后用于Origin等软件作图。软件本身为轻量级工具，安装占用空间较小，项目数据主要以测量记录和报告形式呈现，适合与SEM、TEM等仪器输出的图像配合使用。对于需要批量处理或复杂统计的场景，可将导出数据结合其他数据分析软件完成进一步处理。

使用流程：

第一步：启动Nano Measurer后，点击“打开”按钮载入待分析的SEM或TEM图像，注意仅支持BMP和JPG格式，其他格式需提前转换。

第二步：导入图片后首先点击“标尺”按钮，选取图像中已知长度的比例尺作为后续测量的基准，完成像素与实际尺寸的校准。

第三步：使用“标记”功能在图像上逐一对颗粒、晶粒或孔径进行测量，可设置标记线颜色和标号位置，便于区分不同对象。

第四步：测量过程中可开启“即时报告”同步查看尺寸数据，当数据量大于10个后，通过“查看报告”获取基础统计与分布信息。

第五步：完成测量后导出数据，可导入Origin等软件绘制粒径分布图或统计图表，也可通过“中文”“English”按钮切换界面语言。