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电源测试创新出圈 昂科闪耀2026世界AI服务器电源大会

电源测试创新出圈 昂科闪耀2026世界AI服务器电源大会

当AI大模型迭代进入深水区,超算中心扩容节奏持续提速,算力需求的指数级爆发,正将服务器电源推向高功率密度、高效能、高可靠性的三重技术拐点。与此同时,绿色数据中心的降碳诉求日益刚性,传统电源测试设备能耗高、适配性弱、精度不足的痛点愈发凸显,成为制约产业高质量发展的关键瓶颈。

2026年5月22日,2026世界AI服务器电源大会于深圳科兴科学园启幕,昂科技术以半导体测试领域标杆企业之姿,携V9000-ABI电源老化测试核心技术与解决方案亮相B09展位。

本次大会上,电源测试事业部总经理郭翘先生以《AI服务器垂直供电产品老化测试的创新探索与实践》为题,深度拆解AI电源垂直供电架构的测试难点,系统分享V9000-ABI在动态负载模拟、极端环境适配、长期可靠性验证等方面的技术创新与量产实践案例,为全球产业提供可复制、可落地的电源老化测试解决方案。

生成式AI的爆发,彻底重塑了服务器电源的市场需求与技术标准。当前单台AI服务器功耗已突破120kW,GPU/NPU瞬时大电流、宽动态负载、高功率密度等极端工况,对电源模块的稳定性、动态响应能力与长期可靠性提出前所未有的挑战。从供电架构演进来看,传统供电体系逼近物理极限,垂直供电(VPD)、高压直流(HVDC)等新型架构加速落地,推动电源模块向更高功率、更高集成度快速迭代。

与此同时,中国服务器电源产业链正成为全球算力基础设施的核心支撑,无论是算力中心的大型变电站设备,还是服务器用大功率电源,以及板载的VRM、IPD电源模块,都是AI服务器产业链炙手可热的产品。但同时电源模块功率密度的大幅提升也对量产型电源模块老化测试提出了更高的要求。电源模块测试绝非单一功能验证,而是贯穿研发、量产、交付全生命周期的质量管控核心,电气性能、动态响应、环境适应性、长期可靠性四大维度的测试缺失,均可能导致设备宕机、数据失真等致命故障。构建适配AI电源严苛工况的高精度、自动化、低能耗测试体系,已成为产业破局的核心锚点。

深耕半导体测试领域多年,昂科技术精准把握AI服务器垂直供电架构的技术趋势,自主研发的V9000-ABI电源老化测试设备,以全球首款规模化并列堆叠式架构,破解传统设备效率低、能耗高、温控不准、兼容性差的行业痛点,成为全球AI服务器电源模组、车载电源芯片老化测试的标杆方案。

其核心优势深度适配AI电源极端测试需求,实现技术与场景的精准耦合:苛刻工况精准适配,还原真实服役环境:创新风冷/液冷双散热设计,风冷下拉载率达50%-60%,液冷实现100%全拉载,单DUT独立温控精度达±2℃,可精准模拟AI电源真实散热压力与负载工况,彻底解决传统设备温控偏差大、工况模拟失真的难题。全流程自动化测试,筑牢量产效率基石:标准配置支持512个DUT同步测试,可灵活拓展至1000+,全自动上下料配合高精度压力调节,搭配多二维码扫描实现全流程追溯,可选配AOI检测与激光打标,构建测试分选全闭环,大幅降低人工干预误差,适配AI电源大批量量产需求。绿色降本技术创新,践行低碳发展理念:独创能馈式负载技术,将测试电能反馈至设备输入端,较传统电阻负载降低90%以上电能损耗,完美契合绿色数据中心降碳诉求;模块化BIB设计延长设备使用寿命,大幅降低换线与维护成本,实现性能与成本的最优平衡。模块化架构灵活扩容,适配多元测试场景:以Burn-In测试盒为核心,堆叠式设计可灵活扩容,单DUT功耗最高支持1500W,兼容大电流与高速接口,零电流分离设计避免电流冲击,完美匹配AI电源多规格、极端工况的测试需求。

展会现场人头涌动,昂科技术展位客流络绎不绝,亮眼表现稳居全场高人气展区行列。展会期间,电源测试事业部总经理郭翘受邀接受主办方专访。访谈中,他围绕企业核心产品优势、适配AI服务器与数据中心电源场景的技术支撑能力,以及后续AI服务器电源领域的战略布局规划等核心议题,展开专业详尽的解读分享。

从AI大模型的快速发展,到AI服务器基础设施的技术突破,AI电源模块已经从水平供电到VPD垂直供电,供电电流已经高达1200A。测试设备的突破性创新与全产业链协同,将引领中国AI服务器电源产业的历史性跨越。长期以来,昂科技术始终以技术创新为核心,以客户需求为导向,深耕电源测试核心赛道,用硬核产品助力电源产业链构建核心竞争力。

算力革命浪潮奔涌,绿色低碳大势所趋。未来,昂科技术将持续锚定AI电源测试核心需求,不断优化V9000-ABI等核心产品解决方案,携手产业链上下游伙伴,攻克高功率密度、高效能、高可靠性等关键技术难题,助力全球AI服务器电源产业绿色化、智能化、高质量发展。

昂科技术简介

昂科技术是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业,公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案,赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI(Auto Burn-In)系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案,我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合,为客户在市场竞争中取得领先创造价值。

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