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1 / 2 素养培优5 带电粒子在三维空间中的运动 1.(2024·山东济宁一模)如图所示,在三维坐标系O-xyz 中存在一长方体ABCD-abOd,yOz 平面左侧存在沿z 轴 负方向、磁感应强度大小为B1(未知)的匀强磁场,右侧存在沿BO 方向、磁感应强度大小为B2(未知)的匀强 磁场(未画出)。现有一带正电粒子以初速度v 从A 点沿平面ABCD 进入磁场,经C 点垂直于yOz 平面进入右侧 磁场,此时撤去yOz 平面左侧的磁场B1,换上电场强度为E(未知)的匀强电场,电场强度的方向竖直向上,最 终粒子恰好打在Aa 棱上。已知AB=2L、Aa=AD=L,B2=5√2B1,粒子的电荷量为q,质量为m(重力不计)。 求: (1)磁感应强度B1的大小; (2)粒子第二次经过yOz 平面的坐标; (3)电场强度E 的大小。 2.(2024·湖南长沙高三二模)如图所示,三维坐标系Oxyz 内存在着正四棱柱空间区域,正四棱柱的截面OPMN 水平且与ACDF-IJGH 的两个底面平行,其中A 点的坐标为(0,√6 6 L,0),C 点的坐标为(0,√6 6 L,L),正 四棱柱ACDF-OPMN 空间处于沿y 轴方向的匀强电场中,OPMN-IJGH 空间处于沿y 轴负方向的匀强磁场中,质量 为m、电荷量为+q 的粒子以速度v0从A 点沿AD 方向射出,经电场偏转后恰好从截面OPMN 的中心进入磁场区域, 不计粒子的重力。 (1)求匀强电场的电场强度; (2)若粒子恰好未从四棱柱的侧面飞出,求匀强磁场的磁感应强度B 的大小; (3)若粒子最终从JH 连线上的一点射出磁场区域,此点到J 点的距离为√2 4 L,求I 点的y 轴坐标。 3.(2024·山东济南一模)如图甲所示,在三维坐标系O-xyz 中,0<x<d 的空间内,存在沿y 轴正方向的匀强电场, x>d 的空间内存在沿x 轴正方向的匀强磁场,荧光屏垂直于x 轴放置,其中心C 位于x 轴上并且荧光屏可以沿x 轴 水平移动。从粒子源不断飘出电荷量为q、质量为m 的带正电粒子,加速后以初速度v0沿x 轴正方向经过O 点,经 电场进磁场后打在荧光屏上。已知粒子刚进入磁场时速度方向与x 轴正方向的夹角θ=60°,忽略粒子间的相互作 用,不计粒子重力。 (1)求匀强电场电场强度的大小E; 2 / 2 (2)当粒子打到荧光屏后,沿x 轴缓慢移动荧光屏,沿x 轴正方向看去,观察到荧光屏上出现如图乙所示的荧光 轨迹(箭头方向为荧光移动方向),轨迹最高点P 的y 轴坐标值为5√3d 6 ,求匀强磁场磁感应强度的大小B1以及 荧光屏中心C 初始位置可能的x 轴坐标; (3)若将荧光屏中心C 固定于x 轴上x=d+√3d 6 处,在x>d 的空间内附加一沿y 轴负方向的匀强磁场,磁感应 强度大小为B2=√3m v0 qd ,求附加匀强磁场B2后进入磁场的粒子打在荧光屏上的位置坐标。 4.(2024·浙江金华模考)在芯片制造过程中,离子注入是其中一道重要的工序。如图所示的是离子注入工作的原 理示意图,离子经加速后沿水平方向进入速度选择器,然后通过磁分析器,选择出特定比荷的离子,经偏转系统 后注入处在水平面内的晶圆(硅片)。速度选择器、磁分析器和偏转系统的匀强磁场的磁感应强度大小均为B,方 向均垂直于纸面向外;速度选择器和偏转系统中的匀强电场的电场强度大小均为E,方向分别为竖直向上和垂直于 纸面向外。磁分析器截面是内外半径分别为R1和R2的四分之一圆环,其两端中心位置M 和N 处各有一个小孔;偏 转系统中电场和磁场的分布区域是同一边长为L 的正方体,其底面与晶圆所在水平面平行,间距也为L。当偏转系 统不加电场及磁场时,离子恰好竖直于注入到晶圆上的O 点(即图中坐标原点,x 轴垂直于纸面向外)。整个系统 置于真空中,不计离子重力,打在晶圆上的离子经过电场和磁场偏转的角度都很小。当α 很小时,有sin α≈tan α≈α,cos α≈1-1 2α2。求: (1)离子通过速度选择器后的速度大小v 和磁分析器选择出来的离子的比荷q m; (2)偏转系统仅加电场时离子注入晶圆的位置,用坐标(x,y)表示; (3)偏转系统仅加磁场时离子注入晶圆的位置,用坐标(x,y)表示。







































































































































































































